Онлайн тесты на тему "Методология проектирования промышленных изделий - 6 семестр | МОИ (МТИ) [ID 61349]"

Тестовое задание на тему: Методология проектирования промышленных изделий - 6 семестр
Тест набрал 90 баллов, был выполнен на зачет. Отчёт набранных баллов предоставляю в демо работах.
В купленном тесте будут вопросы и ответы которые размещены ниже.
Так же могу выполнять данную работу индивидуально. Делайте индивидуальный заказ.

Описание работы

СПИСОК ВОПРОСОВ

Какой из перечисленных типов данных описывает размеры и форму детали?
Какова цель отсева грубых погрешностей в исходных данных?
Какое из перечисленных преобразований используется для приведения распределений к нормальному закону?
Какие из перечисленных данных необходимы для построения математических моделей технологических процессов?
Для чего необходима предварительная обработка исходных данных?
Что называется АПТП?
Какая из перечисленных целей является верификацией математической модели?
Что называют моделью в системном анализе?
Что из перечисленного характеризует качество промышленной продукции?
Что из перечисленного является целевой функцией в задаче оптимизации?
Что называют обобщенным критерием?
Какие из перечисленных методов используются для решения задач оптимизации?
Что из перечисленного необходимо определить при постановке задачи оптимизации?
Основная цель формирования экономических критериев?
К какому из перечисленному уровню иерархии критериев относится повышение точности размеров деталей?
Что называют САПР?
Какая из перечисленных задач НЕ является целью САПР?
Какой из перечисленных видов обеспечения НЕ относится к структуре САПР?
Сколько уровней содержит эталонная модель OSI?
Что из перечисленного обеспечения используется для математического моделирования в САПР?
В каком из перечисленных режимов задачи выполняются в автоматическом режиме без участия пользователя?
Что из перечисленного содержит база данных компонентов в информационном обеспечении САПР?
Какой метод анализа используется для логических схем?
Какое из перечисленных направлений не относится к развитию автоматизации разработки электронной аппаратуры?
Какая из перечисленных моделей используется для описания биполярного транзистора на микроуровне?
Каким из перечисленных методом решаются уравнения только на границе конструкции?
Какое из перечисленных преобразований используется для данных с положительной ассиметрией при предварительной обработке данных?